Plots et porte-échantillons

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EM-Tec high purity carbon Hitachi SEM sample stub, Ø25 x 6mm x M4
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EM-Tec high purity carbon Hitachi SEM sample stub, Ø15 x 6mm x M4
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EM-Tec high purity carbon SEM pin stub Ø12.7mm top x 8mm L, standard pin
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø100×4.5mm stub, M4
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø63x6mm stub, M4
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø50x6mm stub, M4
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø100mm Zeiss pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø63mm Zeiss pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø50mm Zeiss pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø38mm Zeiss pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32mm Zeiss pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø25.4mm Zeiss pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø100mm standard pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø63mm standard pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø50mm standard pin stub
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32mm standard pin stub
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EBSD-3D sample holder for FEI / Thermo Dualbeam Systems, aluminium, M6 fine thread
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ISI/ABT/Topcon Ø15x10mm SEM cylinder sample stub, aluminium
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JEOL Ø32x12mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
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JEOL Ø50x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø50x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø32x20mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø12.2x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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Hitachi Ø63x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø25.4mm pin stub
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JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium
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JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium
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JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
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JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
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JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
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JEOL Ø25x16mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
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JEOL Ø25×12.7mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
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JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium
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JEOL Ø25x8mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium
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JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium
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EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32x10mm stub, M4
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Hitachi Ø15x10mm M4 dish SEM sample stub, aluminium
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Hitachi Ø25x16mm M4 angled SEM sample stub, double 90 degree, aluminium
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Hitachi Ø25x16mm M4 angled SEM sample stub, 45 and 90 degree, aluminium
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Hitachi Ø25x8mm M4 angled SEM sample stub, double 45/90 degree, aluminium
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Hitachi Ø32x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium
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Hitachi Ø25x16mm M4 angled SEM sample stub, 45 degree, aluminium
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Hitachi Ø25x10mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium
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Hitachi Ø15x11mm M4 angled SEM sample stub, 45 and 90 degree, aluminium each
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Hitachi Ø25x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium
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Hitachi Ø15x10mm M4 angled SEM sample stub, 45 degree, aluminium
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Hitachi Ø15x10mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium
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Gatan 3View system SEM pin stubs with large Ø2.4mm flat, Ø2mm pin x12.5mm H, aluminium
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Plots et porte-échantillons

EM-Tec high purity carbon Hitachi SEM sample stub, Ø25 x 6mm x M4

EM-Tec high purity carbon Hitachi SEM sample stub, Ø15 x 6mm x M4

EM-Tec high purity carbon SEM pin stub Ø12.7mm top x 8mm L, standard pin

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø100×4.5mm stub, M4

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø63x6mm stub, M4

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø50x6mm stub, M4

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø100mm Zeiss pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø63mm Zeiss pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø50mm Zeiss pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø38mm Zeiss pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32mm Zeiss pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø25.4mm Zeiss pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø100mm standard pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø63mm standard pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø50mm standard pin stub

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32mm standard pin stub

EBSD-3D sample holder for FEI / Thermo Dualbeam Systems, aluminium, M6 fine thread

ISI/ABT/Topcon Ø15x10mm SEM cylinder sample stub, aluminium

JEOL Ø32x12mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

JEOL Ø50x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø50x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø32x20mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø12.2x10mm cylinder SEM sample stub, aluminium

Hitachi Ø63x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø25.4mm pin stub

JEOL Dish stub, Ø12.2×10 with 1.5mm dish depth, aluminium

JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with double 90 degree, aluminium

JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

JEOL Ø25x16mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

JEOL Ø25x16mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø12.2x10mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

JEOL Ø25×12.7mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 and 90 degree, aluminium

JEOL Ø25x8mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø9.5×9.5mm angled SEM sample stub with 45 degree, aluminium

JEOL Ø25x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

JEOL Ø9.5x5mm cylinder SEM sample stub, aluminium

EM-Tec S-Clip sample holder with S-Clip(s) on Ø32x10mm stub, M4

Hitachi Ø15x10mm M4 dish SEM sample stub, aluminium

Hitachi Ø25x16mm M4 angled SEM sample stub, double 90 degree, aluminium

Hitachi Ø25x16mm M4 angled SEM sample stub, 45 and 90 degree, aluminium

Hitachi Ø25x8mm M4 angled SEM sample stub, double 45/90 degree, aluminium

Hitachi Ø32x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium

Hitachi Ø25x16mm M4 angled SEM sample stub, 45 degree, aluminium

Hitachi Ø25x10mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium

Hitachi Ø15x11mm M4 angled SEM sample stub, 45 and 90 degree, aluminium each

Hitachi Ø25x6mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium

Hitachi Ø15x10mm M4 angled SEM sample stub, 45 degree, aluminium

Hitachi Ø15x10mm M4 cylinder SEM sample stub, aluminium

Gatan 3View system SEM pin stubs with large Ø2.4mm flat, Ø2mm pin x12.5mm H, aluminium