Par des microscopistes,
SPM - AFM - SEM Magnification
Affichage de 1–12 sur 16 résultats
-
301BE Certification
1,00 € -
Échantillon de test KPFM et EFM avec réseaux de lignes Al et Au, monté sur disque AFM métallique de 15 mm
1,00 € -
Choix des options Ce produit a plusieurs variations. Les options peuvent être choisies sur la page du produitÉtalon d’étalonnage de grossissement certifié EM-Tec MCS-0.1CXY, 2,5 mm à 100 nm dans les directions X et Y
1,00 € -
Choix des options Ce produit a plusieurs variations. Les options peuvent être choisies sur la page du produitÉtalon d’étalonnage de grossissement certifié EM-Tec MCS-1CF-XY, 2,5 mm à 1 µm dans les directions X et Y
1,00 € -
Choix des options Ce produit a plusieurs variations. Les options peuvent être choisies sur la page du produitÉtalon d’étalonnage de grossissement traçable EM-Tec MCS-0.1TR-XY, 2,5 mm à 100 nm dans les directions X et Y
1,00 € -
Choix des options Ce produit a plusieurs variations. Les options peuvent être choisies sur la page du produitÉtalon d’étalonnage de grossissement traçable EM-Tec MCS-1TR-XY, 2,5 mm à 1 µm dans les directions X et Y
1,00 € -
Choix des options Ce produit a plusieurs variations. Les options peuvent être choisies sur la page du produitÉtalon d’étalonnage EM-Tec Damier
1,00 € -
Mount Certified Specimen for SEM
1,00 € -
MXS 301BE, mounted
1,00 € -
MXS 301BE, unmounted
1,00 € -
MXS 301CE, mounted
1,00 € -
MXS 301CE, unmounted
1,00 €

