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SPM - AFM - SEM Magnification

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  • 301BE Certification

    1,00 
  • Échantillon de test KPFM et EFM avec réseaux de lignes Al et Au, monté sur disque AFM métallique de 15 mm

    1,00 
  • EM-Tec MCS-X-Y-series-SEM-magnification-calibration-standards-small
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    Étalon d’étalonnage de grossissement certifié EM-Tec MCS-0.1CXY, 2,5 mm à 100 nm dans les directions X et Y

    1,00 
  • EM-Tec-MCS-X-Y-series-SEM-magnification-calibration-standards1-small-
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    Étalon d’étalonnage de grossissement certifié EM-Tec MCS-1CF-XY, 2,5 mm à 1 µm dans les directions X et Y

    1,00 
  • EM-Tec-MCS-X-Y-series-SEM-magnification-calibration-standards-small
    Choix des options Ce produit a plusieurs variations. Les options peuvent être choisies sur la page du produit

    Étalon d’étalonnage de grossissement traçable EM-Tec MCS-0.1TR-XY, 2,5 mm à 100 nm dans les directions X et Y

    1,00 
  • Étalon d'étalonnage de grossissement traçable EM-Tec MCS-1TR-XY, 2,5 mm à 1 µm dans les directions X et Y
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    Étalon d’étalonnage de grossissement traçable EM-Tec MCS-1TR-XY, 2,5 mm à 1 µm dans les directions X et Y

    1,00 
  • checkered-calibration-standard
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    Étalon d’étalonnage EM-Tec Damier

    1,00 
  • Mount Certified Specimen for SEM

    1,00 
  • MXS 301BE, mounted

    1,00 
  • MXS 301BE, unmounted

    1,00 
  • MXS 301CE, mounted

    1,00 
  • MXS 301CE, unmounted

    1,00